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QCX-40M金相顯微鏡

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技術(shù)參數(shù)高品質(zhì)專業(yè)金相物鏡偏光組件及DIC諾曼爾斯基微分干涉襯比系統(tǒng)附件偏振系統(tǒng)包括了起偏鏡插板和檢偏鏡插板，可做偏光檢測(cè)，在半導(dǎo)體和PCB檢測(cè)中，可消除雜光，細(xì)節(jié)更去清洗

詳細(xì)介紹

技術(shù)參數(shù)

高品質(zhì)專業(yè)金相物鏡

偏光組件及DIC諾曼爾斯基微分干涉襯比系統(tǒng)附件

偏振系統(tǒng)包括了起偏鏡插板和檢偏鏡插板，可做偏光檢測(cè)，在半導(dǎo)體和PCB檢測(cè)中，可消除雜光，細(xì)節(jié)更去清洗。360度旋轉(zhuǎn)式檢偏器可以在不移動(dòng)標(biāo)本的情況下，方便的觀察標(biāo)本在不同偏振角度光線下呈現(xiàn)的狀態(tài)，在正交偏光的基礎(chǔ)上，插入DlC棱鏡，可進(jìn)行DIC微分干涉相襯觀察。DIC技術(shù)可以使物體表面微小的高低差產(chǎn)生明顯的浮雕效果，大幅提高圖像對(duì)比度。

采用高性能微分干涉組件，可以將明場(chǎng)觀察下無(wú)法檢測(cè)的細(xì)微高低差，轉(zhuǎn)化為高對(duì)比度的明暗差并以立體浮雕形式表現(xiàn)出來(lái)，廣泛用于LCD導(dǎo)電粒子，精密磁盤表面劃痕檢測(cè)等領(lǐng)域。