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JEM-ARM300F2 原子分辨率分析型電子顯微鏡

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產(chǎn)品型號

品       牌

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更新時間：2024-11-16 08:58:55瀏覽次數(shù)：22次

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產(chǎn)品簡介

GRANDARM™2更新了

詳細介紹

"GRAND ARM™2更新了。實現(xiàn)在寬范圍加速電壓內(nèi)，超高空間分辨率下高靈敏度分析。


主要特點

1. FHP2 新型物鏡極靴

保證超高空間分辨率觀察的同時，優(yōu)化FHP物鏡極靴的形狀以滿足大尺寸雙SDDs（158mm2）的需求，x射線有效檢測效率提高了兩倍以上，實現(xiàn)亞埃級分辨率的EDS元素面分析。

2. 新型屏蔽體

TEM柱采用箱式外殼，可減少溫度、氣流、噪聲等環(huán)境變化的影響，從而提高顯微鏡的穩(wěn)定性。


3. ETA 校正器 & JEOL COSMO™

    快速準(zhǔn)確的像差校正


4. 穩(wěn)定性提高

CFEG采用小型SIP泵，快速提高真空度，提高了發(fā)射體附近的真空、發(fā)射電流、探針電流的穩(wěn)定性。其他改進也提高了顯微鏡的穩(wěn)定性和對各種干擾的抵抗力。

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