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XRF FT160 鍍層測厚儀返回列表頁

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更新時(shí)間：2023-03-02 08:40:06瀏覽次數(shù)：221次

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快速、準(zhǔn)確地分析納米級鍍層

FT160 臺式 XRF 分析儀旨在測量當(dāng)今 PCB、半導(dǎo)體和微連接器上的微小部件。準(zhǔn)確、快速地測量微小部件的能力有助于提高生產(chǎn)率并避免代價(jià)高昂的返工或元件報(bào)廢。

FT160 的多毛細(xì)管光學(xué)元件可以測量小于 50 μm 的特征上的納米級鍍層，*的檢測器技術(shù)可為您提供高精度，同時(shí)保持較短的測量時(shí)間。其他功能，例如大樣品臺、寬樣品艙門、高清樣品攝像頭和堅(jiān)固的觀察窗，可以輕松裝載不同尺寸的物品并在大型基板上找到感興趣的區(qū)域。該分析儀易于使用，與您的 QA / QC 流程無縫集成，在問題危機(jī)發(fā)生前提醒您。

產(chǎn)品亮點(diǎn)

FT160 的光學(xué)和檢測器技術(shù)專為微光斑和超薄鍍層分析而設(shè)計(jì)，針對最小的特征進(jìn)行了優(yōu)化。

用于從安全距離查看分析的大觀察窗

測量方法符合 ISO 3497、ASTM B568 和 DIN 50987 標(biāo)準(zhǔn)

IPC-4552B、IPC-4553A、IPC-4554 和 IPC-4556 一致性鍍層檢測

用于快速樣品設(shè)置的自動(dòng)特征定位

為您的應(yīng)用優(yōu)化的分析儀配置選擇

在小于 50 μm 的特征上測量納米級鍍層

將傳統(tǒng)儀器的分析通量提高一倍

可容納各種形狀的大型樣品

專為長期生產(chǎn)使用的耐用設(shè)計(jì)

	FT160	FT160L	FT160S
元素范圍	Al – U	Al – U	Al – U
探測器	硅漂移探測器 (SDD)	硅漂移探測器 (SDD)	硅漂移探測器 (SDD)
X射線管陽極	W 或 Mo	W 或 Mo	W 或 Mo
光圈	多毛細(xì)管聚焦	多毛細(xì)管聚焦	多毛細(xì)管聚焦
孔徑大小	30 μm @ 90% 強(qiáng)度（Mo tube）
35 μm @ 90% 強(qiáng)度（W tube）	30 μm @ 90% 強(qiáng)度（Mo tube）
35 μm @ 90% 強(qiáng)度（W tube）	30 μm @ 90% 強(qiáng)度（Mo tube）
35 μm @ 90% 強(qiáng)度（W tube）
XY軸樣品臺行程	400 x 300 mm	300 x 300 mm	300 x 260 mm
樣品尺寸	400 x 300 x 100 mm	600 x 600 x 20 mm	300 x 245 x 80 mm
樣品聚焦	聚焦激光和自動(dòng)聚焦	聚焦激光和自動(dòng)聚焦	聚焦激光和自動(dòng)聚焦