納米粒度儀
【簡(jiǎn)單介紹】
產(chǎn)品簡(jiǎn)介:
1)CHDF3000是基于光散原理的儀器,使用的技術(shù)對(duì)高分辨率的粒度分布(PSD)進(jìn)行測(cè)量,包括高粒子檢測(cè)靈敏度、動(dòng)態(tài)范圍、納米粒子的優(yōu)化分析;
2)CHDF3000可提供完整范圍5納米至NM3微米,真實(shí)的PSD數(shù)據(jù);
3)通過(guò)粒子分離真正的PSD數(shù)據(jù),關(guān)于粒子大小分布的形狀不需要假設(shè);
4)根據(jù)顆粒密度分析—得出準(zhǔn)確的粒子分類,包括納米粒度;
5)自動(dòng)化操作,通過(guò)一個(gè)
【詳細(xì)說(shuō)明】
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CHDF3000型高精度納米粒度儀 |
產(chǎn)地:美國(guó) 產(chǎn)品簡(jiǎn)介: 1)CHDF3000是基于光散原理的儀器,使用的技術(shù)對(duì)高分辨率的粒度分布(PSD)進(jìn)行測(cè)量,包括高粒子檢測(cè)靈敏度、動(dòng)態(tài)范圍、納米粒子的優(yōu)化分析; 2)CHDF3000可提供完整范圍5納米至NM3微米,真實(shí)的PSD數(shù)據(jù); 3)通過(guò)粒子分離真正的PSD數(shù)據(jù),關(guān)于粒子大小分布的形狀不需要假設(shè); 4)根據(jù)顆粒密度分析—得出準(zhǔn)確的粒子分類,包括納米粒度; 5)自動(dòng)化操作,通過(guò)一個(gè)人性化界面即可完成全部操作; 主要優(yōu)勢(shì): 1) 高精度顆粒分布; 2) 高靈敏度探測(cè); 3)納米級(jí)別顆粒度分析; 4)*的可靠性; 5)操作簡(jiǎn)便; 6)在質(zhì)量控/研發(fā)/在線控制方面均可應(yīng)用; 7)由于其新的紫外檢測(cè),具有*的粒子檢測(cè)靈敏度; 8)平臺(tái),采用錐形檢測(cè)流動(dòng)池; 9)*的檢測(cè)動(dòng)態(tài)范圍,可檢測(cè)出微量的粒子; 10)泵送系統(tǒng)性能高; 11)連續(xù)監(jiān)測(cè)/控制所有的測(cè)量數(shù)據(jù); 12)紫外檢測(cè)器; 13)自動(dòng)取樣器; 14)樣品用量?。ú坏?ml),分析時(shí)間10分鐘; 技術(shù)參數(shù): 1)樣品瓶數(shù)量:72; 2)樣品瓶尺寸:12mm,2ml; 3)每小瓶注射次數(shù):每個(gè)樣品zui低可以重復(fù)運(yùn)行15次,數(shù)據(jù)可以自動(dòng)保存和打印; 4)自動(dòng)樣品混合:在分析之前樣品(200μL)被吸入到瓶中4次用于樣品混合,也為了防止粒子沉降; 5)單獨(dú)標(biāo)記瓶:12ml; 6)單獨(dú)針沖洗瓶:12ml用于自動(dòng)針浸漬(進(jìn)入水或表面活性劑溶液)保持針外表面清潔; 7)注射器體積:250 μL; 8)精度:小于+/- 0.5% RSD; 9)閥門(mén):Valco Cheminert C3閥門(mén),帶有25 μL圈; 10)防潮材質(zhì):聚四氟乙烯,316不銹鋼; 11)尺寸:24 x 59 x 52 cm (W x D x H); 12)凈重:42kg |
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Zeta-ASP型高濃度膠體顆粒度分析儀 |
產(chǎn)地:美國(guó) 儀器簡(jiǎn)介: Zeta-ASP是高濃度膠體和乳液的特性參數(shù)檢測(cè)儀,可以測(cè)試:粒徑、Zeta電位、滴定、電導(dǎo)等。 此儀器容易使用、測(cè)量精確。對(duì)于高達(dá)60%(體積)濃度的樣品,也無(wú)需進(jìn)行稀釋或樣品前處理,即可直接測(cè)量甚至對(duì)于漿糊凝膠、水泥以及用其它儀器很難測(cè)量的材料都可直接進(jìn)行測(cè)量。 結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)緊揍,外置的Zeta電位滴定裝置(可選配)自動(dòng)摘定裝置可自動(dòng)、快速地判斷等電點(diǎn),可快速得到*分散劑和絮凝劑。對(duì)粒度和雙電層失真進(jìn)行自動(dòng)校正。該儀器的軟件易于使用,通用性強(qiáng),非常適用于科研及工廠的優(yōu)化控制。 典型應(yīng)用: 綜合穩(wěn)定水泥漿,陶瓷,化學(xué)機(jī)械研磨,煤漿,涂料,化妝品,環(huán)境保護(hù)禪選法礦物富集,食品工業(yè),乳膠,微乳,混合分散體系,納米粉,無(wú)水體系,油漆成像材料。 主要特點(diǎn): 1)能分析多種分散物的混合體; 2)無(wú)需依賴Double Layer模式,精確地判定等電點(diǎn); 3)可適用于高導(dǎo)電(highly conducting)體系; 4)可排除雜質(zhì)及對(duì)樣品污染的干擾; 5)可精確測(cè)量無(wú)水體系; 6)Zeta電位測(cè)試采用多頻電聲測(cè)量技術(shù),無(wú)需先測(cè)量粒度即可進(jìn)行電位測(cè)量; 7)樣品的zui高濃度可達(dá)60%(體積比),被測(cè)樣品無(wú)需稀釋,對(duì)濃縮膠體和乳膠可進(jìn)行直接測(cè)量; 8)具有自動(dòng)電位滴定功能; 優(yōu)于光學(xué)方法的技術(shù)優(yōu)勢(shì): 1)被測(cè)樣品無(wú)需稀釋; 2)排除雜質(zhì)及對(duì)樣品污染的干擾; 3)不需定標(biāo); 4)能分析多種分散物的混合體; 5)高精度; 6)所檢側(cè)粒徑范圍款從5 nm至1000um 優(yōu)于electroactics方法的技術(shù)優(yōu)勢(shì): 1)無(wú)需定標(biāo); 2)能測(cè)更寬的粒徑范圍; 3)無(wú)需依賴Double Layer模式 4)無(wú)需依賴( electric surface properties)電表面特牲; 5)零表面電荷條件下也可測(cè)量粒徑; 6)可適用于無(wú)水體系; 7)可適用于高導(dǎo)電(highly conducting)體系; 優(yōu)于微電泳方法的技術(shù)優(yōu)勢(shì): 1)無(wú)需稀釋,固合量高達(dá)60%; 2)可排除雜質(zhì)及對(duì)樣品污染的干擾; 3)高精度(±0.1mv); 4)低表面電荷(可低至0. 1mv); 5)electrosmotic flow不影響測(cè)量; 6)對(duì)流(convection)不影響測(cè)量; 7)可精確測(cè)量無(wú)水體系; 技術(shù)參數(shù): 1)所檢測(cè)粒徑范圍寬:從5 nm至1000um; 2)可測(cè)量參數(shù):粒度分布、固含量、Zeta電位、等電點(diǎn)IEP、E5A、電導(dǎo)率、PH、溫度、聲衰減; 3)Zeta電位測(cè)量范圍:+/-200 mv,低表面電荷(可低至0. 1mv),高精度(±0.1mv); 4)零表面電荷條件下也可測(cè)量粒徑; 5)允許樣品濃度:0.1-60%(體積百分?jǐn)?shù)); 6)樣品體積:30-230ml; 7)PH范圍:0~14; 8)電導(dǎo)率范圍:0~10 s/m
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APS-100型總粒度分析儀 |
產(chǎn)地:美國(guó) 產(chǎn)品簡(jiǎn)介: 1)可進(jìn)行詳細(xì)的、的粒度分析,不需要稀釋; 2)不需要設(shè)置稀顆粒大小數(shù)據(jù),APS可測(cè)量未稀釋的和/或不透明的樣品; 3)更好的是,與其他粒度分析儀不同的是,你不必知道一個(gè)先驗(yàn)的或猜測(cè)的樣品粒度分布(PSD)形狀; 4)APS同時(shí)產(chǎn)生未稀釋的PSD數(shù)據(jù),聲衰減和聲音速度譜,固體含量,pH,電導(dǎo)率和溫度; 主要用途: 1)半導(dǎo)體化學(xué)機(jī)械拋光(CMP)料漿; 2)陶瓷; 3)油墨; 4)乳劑穩(wěn)定性; 5)藥品; 6)生物膠體; 7)熒光粉; 8)有機(jī)和無(wú)機(jī)顏料如Ti02和炭黑; 9)催化劑; 10)礦物; 11)聚合物乳液; 12)水和非水分散體系; 原理簡(jiǎn)介: APS 從聲衰減光譜測(cè)量產(chǎn)生PSD數(shù)據(jù),不需要稀釋樣品。APS還測(cè)量粒度范圍的10納米到100微米的樣品的聲音速度譜、pH、電導(dǎo)率和溫度。 當(dāng)聲音穿越泥漿或膠體時(shí),是衰減的。衰減的程度與粒度分布有關(guān)。APS可在1 - 100 MHz的頻率范圍內(nèi)非常準(zhǔn)確地測(cè)量聲音衰減。因?yàn)槁曇舸┻^(guò)所有的物質(zhì)媒介,APS聲音衰減的測(cè)量可以在高濃度和/或不透明的樣品中進(jìn)行。粒子沉降并不是一個(gè)問(wèn)題,因?yàn)樵跍y(cè)量時(shí)樣品可以被攪拌或泵送。APS分析不受樣品的Zeta電勢(shì)水平的約束。APS很容易分析零粒子和高電荷。 APS取樣分析是快速和容易的,無(wú)需稀釋樣品。稀釋樣品費(fèi)時(shí),容易出錯(cuò),并可能改變樣品的實(shí)際PSD。簡(jiǎn)單地倒,或者連續(xù)泵送樣品進(jìn)入到APS的樣品室,APS的直觀的軟件在幾分鐘內(nèi)做玩余下的工作。 計(jì)算詳細(xì)PSD數(shù)據(jù)的技術(shù),不需要假設(shè)PSD形狀。其他類型的儀器,例如光散射,意味著軟件或操作者假設(shè)或猜測(cè)PSD是單峰、雙峰、對(duì)數(shù)正態(tài)或高斯分布的。這種假設(shè)可能導(dǎo)致數(shù)據(jù)不可靠。 的APS硬件設(shè)計(jì)簡(jiǎn)化了操作,同時(shí)減少維護(hù)。這個(gè)設(shè)計(jì)適合研發(fā)以及重復(fù)質(zhì)量控制測(cè)量。APS也適合過(guò)程在線操作。 技術(shù)參數(shù): 1)完整的粒度分布,而不是簡(jiǎn)單的平均值和標(biāo)準(zhǔn)偏差大小的數(shù)據(jù); 2)不需要稀釋樣品; 3)不需要假設(shè)PSD形狀; 4)粒度范圍:0.005-100微米; 5)無(wú)電解質(zhì)干涉; 6)可測(cè)量水的/非水的/不透明的/粘性的樣品; 7)可測(cè)量縱向粘度,%固體,PH值,電導(dǎo)率,溫度,聲衰減和聲速度譜; 8)具有自動(dòng)滴定選項(xiàng); 9)技術(shù):1-100MHz聲衰減譜; 10)溶劑:水/非水; 11)樣品固體%:0.1-60%體積比; 12)樣品體積:標(biāo)準(zhǔn)是120ml,50ml小體積可用; |
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