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高效率全光譜太陽光模擬器能測疊層電池嗎

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產(chǎn)品型號

品       牌

廠商性質(zhì)其他

所  在  地北京市

更新時間:2025-02-16 14:32:55瀏覽次數(shù):60次

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寬光譜雙燈太陽光模擬器,目前由日本SAN-EI公司開發(fā)完成,并且已交付日本產(chǎn)業(yè)綜合技術(shù)研究所AIST使用!

寬光譜太陽光模擬器,目前由日本SAN-EI公司開發(fā)完成,并且已交付日本產(chǎn)業(yè)綜合技術(shù)研究所AIST使用;該設備光譜不匹配性<±5%,有效光譜范圍300nm~1800nm,為太陽能電池計量標準化、研究和研發(fā)新一代太陽能電池提供可能;<>


可廣泛應用于各種太陽能電池的測試:非晶硅(Amorphus Silicon, a-Si)、微晶硅(Nanocrystalline Silicon,nc-Si,Microcrystalline Silicon,mc-Si)、半導體化合物II-IV 族[CdS、CdTe(碲化鎘)、CuInSe2]、燃料敏化電池(DSSC)、有機導電高分子(Organic/polymer solar cells) 、CIGS (銅銦硒化物)等,尤其是對于薄膜多結(jié)太陽能電池測試;

寬光譜太陽光模擬器

技術(shù)參數(shù): AM1.5G & AM0高匹配光譜!
標準化太陽能模擬器(A+A+A+),太陽光模擬器(AAA Class),High spectral match Solar Simulator;太陽能電池IV測試儀,量子效率,光譜響應及IPCE測量系統(tǒng);
 1,采用雙燈混合設計;
 2,有效照光面積:2inch×2inch,4inch×4inch,6inch×6inch,8inch×8inch,10inch×10inch,12inch×12inch等(其他尺寸可定制);
  (組件/模組測試儀、穩(wěn)態(tài)組件太陽光模擬器);
 3,光譜不匹配度:AM1.5G, <±5%, A+ Class;
 4,輻射空間不均勻性:<2%,A Class;  
 5,時間不穩(wěn)定性:<1%,A Class;
 6,輻射強度:輻射強度可調(diào)±30%;
 7,連續(xù)照射模式;

主要特點:
 1,匹配標準:ASTM 、IEC 、JIS
 2,可以任意調(diào)節(jié)照射方向以及燈的位置;
 3,用戶可自己設定任意光照強度;
 4,燈使用壽命計時;


另外,我公司為客戶提供其他類型太陽能測性能試設備:

     • 太陽能電池光譜響應測試系統(tǒng)、IPCE測試系統(tǒng)、量子效率測試系統(tǒng);

     • 太陽能電池測量系統(tǒng)(光譜響應測試系統(tǒng),IPCE測試系統(tǒng),量子效率測試系統(tǒng),I-V曲線測量系統(tǒng)),太陽能電池測試儀;

     • 太陽能電池I-V曲線測量系統(tǒng);

     • I-V 數(shù)據(jù)采集系統(tǒng);

     • 大面積太陽能模擬器/太陽光模擬器/雙燈太陽光模擬器;

     • 太陽能電池分選機;

     • 太陽能電池I-V測試儀;

     • 分光輻射度計,

     • 參考電池/標準電池,

     • 有機太陽能電池載流子遷移率測量系統(tǒng);

     • 鈣鈦礦太陽能電池載流子遷移率測量系統(tǒng);


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