詳細(xì)摘要： 一、產(chǎn)品用途 7XB大平臺(tái)檢測(cè)顯微鏡是專為IT行業(yè)大面積集成電路，對(duì)硅片、電路基板、裂縫探究、精密模具的監(jiān)測(cè)分析，晶片的質(zhì)量檢測(cè)而設(shè)計(jì)開發(fā)制造的，主體為正置式...
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：上海市更新時(shí)間：2024-07-13 在線留言上海光學(xué)儀器一廠
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上海光學(xué)儀器一廠
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詳細(xì)摘要： 一、產(chǎn)品用途 7XB大平臺(tái)檢測(cè)顯微鏡是專為IT行業(yè)大面積集成電路，對(duì)硅片、電路基板、裂縫探究、精密模具的監(jiān)測(cè)分析，晶片的質(zhì)量檢測(cè)而設(shè)計(jì)開發(fā)制造的，主體為正置式...
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：上海市更新時(shí)間：2024-07-13 在線留言
詳細(xì)摘要： CPJ系列數(shù)字元測(cè)量投影儀是光、機(jī)、電一體化的精密高校測(cè)量?jī)x器。立式投影儀的工件影像可以是全正像也可以為倒像，測(cè)量簡(jiǎn)易直觀，效率高。它廣泛用于機(jī)械、儀表、電子、...
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：更新時(shí)間：2024-02-28 在線留言
詳細(xì)摘要： 1、PG15-J型激光平面干涉儀工作基于雙光束等厚干涉原理。2、根據(jù)近代光學(xué)的研究結(jié)果，光兼有波動(dòng)與微粒兩重特性。光的干涉現(xiàn)象是光的波動(dòng)性的特性。
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：更新時(shí)間：2023-12-30 在線留言
詳細(xì)摘要： 立式接觸式干涉儀JDS-1是一種采用量塊或標(biāo)準(zhǔn)零件借以高精度的比較方式的立式精密長(zhǎng)度計(jì)量?jī)x器。主要用于150mm以下塊規(guī)，亦可用作高精密度的長(zhǎng)度和外徑的精密測(cè)量...
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：更新時(shí)間：2023-12-29 在線留言
詳細(xì)摘要： 國(guó)內(nèi)體積最小的、容機(jī)電及氣氛控制為一體的整體化儀器
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：上海市更新時(shí)間：2023-11-07 在線留言您感興趣的產(chǎn)品PRODUCTS YOU ARE INTERESTED IN
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