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XDS TOPA 近紅外光譜分析儀

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產(chǎn)品簡(jiǎn)介

采用 XDS TOPA 近紅外光譜分析儀取代常規(guī)試驗(yàn)，您可以大大縮短產(chǎn)品停留時(shí)間，使實(shí)驗(yàn)室分析時(shí)間極小化。 XDS TOPA 近紅外光譜分析儀是特別針對(duì)水狀產(chǎn)品、透明液體、溶劑以及粘性樣品的實(shí)驗(yàn)室監(jiān)測(cè)而設(shè)計(jì)的。XDS TOP 近紅外光譜分析儀非常適合用于中試過程應(yīng)用和生產(chǎn)線的測(cè)量。有了這種分析儀，可以很容易地使用一次性樣品瓶分析粘性樣品，縮短了清理時(shí)間。利用選配的樣品瓶加熱器模塊，該系統(tǒng)還能在數(shù)據(jù)分析前，提供無人值守的樣品加溫平衡（可高達(dá) 200 °C），提高了實(shí)驗(yàn)室效率。 XDS NIR 技術(shù)不僅帶來了*的分析性能，加快了定標(biāo)方法的研發(fā)，縮短了實(shí)施時(shí)間，保證了定標(biāo)的無縫轉(zhuǎn)移。使用、界面友好、具有聯(lián)網(wǎng)能力的 Vision 軟件可以輕松實(shí)現(xiàn)鑒定、定性和定量等方法。只需按下一個(gè)按鍵或單擊鼠標(biāo)就能完成準(zhǔn)確的分析。

詳細(xì)介紹

儀器特性及優(yōu)勢(shì)

•XDS NIR 技術(shù)確保使用簡(jiǎn)單和定標(biāo)的無縫轉(zhuǎn)移

•結(jié)實(shí)耐用的倉(cāng)庫(kù)或工廠用分析儀

•無需樣品制備，無需試劑，無任何廢棄物

•面向集中數(shù)據(jù)庫(kù)管理的網(wǎng)絡(luò)分析儀

•熱插拔模塊——幾分鐘內(nèi)即可完成更換，不會(huì)影響性能

儀器簡(jiǎn)介

采用 XDS TOPA 近紅外光譜分析儀取代常規(guī)試驗(yàn)，您可以大大縮短產(chǎn)品停留時(shí)間，使實(shí)驗(yàn)室分析時(shí)間極小化。

XDS TOPA 近紅外光譜分析儀是特別針對(duì)水狀產(chǎn)品、透明液體、溶劑以及粘性樣品的實(shí)驗(yàn)室監(jiān)測(cè)而設(shè)計(jì)的。XDS TOP 近紅外光譜分析儀非常適合用于中試過程應(yīng)用和生產(chǎn)線的測(cè)量。

有了這種分析儀，可以很容易地使用一次性樣品瓶分析粘性樣品，縮短了清理時(shí)間。利用選配的樣品瓶加熱器模塊，該系統(tǒng)還能在數(shù)據(jù)分析前，提供無人值守的樣品加溫平衡（可高達(dá) 200 °C），提高了實(shí)驗(yàn)室效率。

XDS NIR 技術(shù)不僅帶來了*的分析性能，加快了定標(biāo)方法的研發(fā)，縮短了實(shí)施時(shí)間，保證了定標(biāo)的無縫轉(zhuǎn)移。