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詳細(xì)描述

產(chǎn)品簡(jiǎn)介：
CTG260高精度涂層測(cè)厚儀(通訊多用型）是一種多功能實(shí)用型便攜式測(cè)量?jī)x，它能快速、無(wú)損傷、精密地進(jìn)行涂、鍍層厚度的測(cè)量。既可用于實(shí)驗(yàn)室，也可用于工程現(xiàn)場(chǎng)。 CTG260高精度涂層測(cè)厚儀(多用型）通過(guò)使用不同的測(cè)頭，還可滿足多種測(cè)量的需要。能廣泛地應(yīng)用在制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測(cè)領(lǐng)域。CTG260高精度涂層測(cè)厚儀(通訊多用型）是材料保護(hù)專業(yè)的儀器。

CTG260高精度涂層測(cè)厚儀(通訊多用型）  的詳細(xì)介紹
CTG260高精度涂層測(cè)厚儀(通訊多用型）|鍍層測(cè)厚儀|漆膜測(cè)厚儀|膜厚儀|涂鍍層測(cè)厚儀

CTG260測(cè)量原理：
CTG260高精度涂層測(cè)厚儀(通訊多用型）采用了磁性和渦流兩種測(cè)厚方法，可無(wú)損地測(cè)量磁性金屬基體( 如鋼、鐵、合金和硬磁性鋼等 )上非磁性覆蓋層的厚度(如鉻、鋅、銅、鋁、琺瑯、橡膠、油漆等)及非磁性金屬基體(如銅、鋁、鋅、錫等)上非導(dǎo)電覆蓋層的厚度(如:琺瑯、橡膠、油漆、塑料等)。
◆磁性法(F型測(cè)頭)：當(dāng)測(cè)頭與覆蓋層接觸時(shí)，測(cè)頭和磁性金屬基體構(gòu)成一閉合磁路，由于非磁性覆蓋層的存在，使磁路磁阻變化，通過(guò)測(cè)量其變化可導(dǎo)出覆蓋層的厚度。
◆渦流法(N型測(cè)頭)：利用高頻交變電流在線圈中產(chǎn)生一個(gè)電磁場(chǎng)，當(dāng)測(cè)頭與覆蓋層接觸時(shí)，金屬基體上產(chǎn)生電渦流，并對(duì)測(cè)頭中的線圈產(chǎn)生反饋?zhàn)饔?，通過(guò)測(cè)量反饋?zhàn)饔玫拇笮】蓪?dǎo)出覆蓋層的厚度。
符合標(biāo)準(zhǔn)：
GB/T 4956─1985 磁性金屬基體上非磁性覆蓋層厚度測(cè)量  磁性方法
GB/T 4957─1985 非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層厚度測(cè)量  渦流方法
JB/T 8393─1996 磁性和渦流式覆層厚度測(cè)量?jī)x
JJG 889─95 《磁阻法測(cè)厚儀》
JJG 818─93 《電渦流式測(cè)厚儀》

產(chǎn)品特點(diǎn)：
◆采用密閉金屬外殼，經(jīng)久耐用，有效防止油污，提高儀器使用壽命；
◆CTG260高精度涂層測(cè)厚儀(通訊多用型）采用了磁性和渦流兩種測(cè)厚方法，即可測(cè)量磁性金屬基體上非磁性覆蓋層的厚度又可測(cè)量非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層的厚度；
◆可使用6種測(cè)頭(F400、F1、F1/90°、F10、N1、CN02)；
◆具有兩種測(cè)量方式：連續(xù)測(cè)量方式（CONTINUE）和單次測(cè)量方式（SINGLE）；
◆具有兩種工作方式：直接方式(DIRECT)和成組方式(A-B)；
◆設(shè)有五個(gè)統(tǒng)計(jì)量：平均值（MEAN）、*大值（MAX）、*小值（MIN）、測(cè)試次數(shù)（NO．）、標(biāo)準(zhǔn)偏差（S．DEV）；
◆可采用單點(diǎn)校準(zhǔn)和兩點(diǎn)校準(zhǔn)兩種方法對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn)，并可用基本校準(zhǔn)法對(duì)測(cè)頭的系統(tǒng)誤差進(jìn)行修正；
◆具有存貯功能：可存貯495個(gè)測(cè)量值；
◆具有刪除功能：對(duì)測(cè)量中出現(xiàn)的單個(gè)可疑數(shù)據(jù)進(jìn)行刪除，也可刪除存貯區(qū)內(nèi)的所有數(shù)據(jù)，以便進(jìn)行新的測(cè)量；
◆可設(shè)置限界：對(duì)限界外的測(cè)量值能自動(dòng)報(bào)警；
◆具有電源欠壓指示功能；
◆操作過(guò)程有蜂鳴聲提示；
◆具有錯(cuò)誤提示功能，通過(guò)屏顯或蜂鳴聲進(jìn)行錯(cuò)誤提示；
◆設(shè)有兩種關(guān)機(jī)方式：手動(dòng)關(guān)機(jī)方式和自動(dòng)關(guān)機(jī)方式；

CTG260高精度涂層測(cè)厚儀(通訊多用型）探頭技術(shù)參數(shù)表

測(cè)頭型號(hào)		F400		F1	F1/90	F10	N1		CN02
工作原理		磁感應(yīng)					電渦流
測(cè)量范圍（um）		0-400		0-1250		0-10000	0-1250(銅上鍍鉻0-40um)	10-200
低限分辨力(um)		0.1		0.1		10	0.1	1
示值誤差	一點(diǎn)校準(zhǔn)(um)	±[3%H+1]				±[3%H+10]	±[3%H+1.5]	±[3%H+1]
	兩點(diǎn)校準(zhǔn)(um)	±[(1～3)%H+0.7]	±[(1～3)%H+1]			±[(1～3)%H+10]	±[(1～3)%H+1.5]	-
測(cè)量條件	*小曲率半徑(mm)	凸 1	凸1.5		平直	10	3	平直
	基體*小面積的直徑(mm)	ф3	ф7		ф7	ф40	ф5	ф7
	*小臨界厚度(mm)	0.2	0.5		0.5	2	0.3	無(wú)限制

CTG260高精度涂層測(cè)厚儀(通訊多用型）測(cè)頭選用參考表

覆蓋層		有機(jī)材料等非磁性覆蓋層 (如:漆料、涂漆、琺瑯、搪瓷、塑料和陽(yáng)極化處理等)		非磁性的有色金屬覆蓋層(如:鉻、鋅、鋁、銅、錫、銀等)
基體		覆蓋層厚度不超過(guò)100µm	覆蓋層厚度超過(guò)100µm	覆蓋層厚度不超過(guò)100µm	覆蓋層厚度超過(guò)100µm
如鐵、鋼	被測(cè)面積的直徑大于30mm	F400 型測(cè)頭 0～400µm	F1 型測(cè)頭 0～1250µm	F400 型測(cè)頭 0～400µm	F1 型測(cè)頭 0～1250µm
等磁性金屬		F1 型測(cè)頭 0～1250µm	F10 型測(cè)頭 0～10mm	F1 型測(cè)頭 0～1250µm	F10 型測(cè)頭 0～10mm
	被測(cè)面積的直徑小于30mm	F400 型測(cè)頭 0～400µm	F400 型測(cè)頭 0～400µm	F400 型測(cè)頭 0～400µm	F400 型測(cè)頭 0～400µm
			F1 型測(cè)頭 0～1250µm		F1 型測(cè)頭 0～1250µm
如銅、鋁、	被測(cè)面積的直徑大于5mm	N1 型測(cè)頭 0～1250µm		僅用于銅上鍍鉻N1 型測(cè)頭 0～40µm
黃銅、鋅、錫
等有色金屬
塑料、印刷線路非金屬基體	被測(cè)面積的直徑大于7mm	-		-	CN02 型測(cè)頭10～200µm

基本配置：

CTG260主機(jī)            1臺(tái)
F1或N1測(cè)頭            1支
校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)片            1套（含試片5片，基體1塊）
電池                  2節(jié)
通訊電纜              1根
通訊軟件              1張
手提密碼箱            1個(gè)
隨機(jī)文件              1套（合格證，保修卡，說(shuō)明書等）
可選附件：
F1、N1、F400、F1/90°、F10、CN02等各種用途探頭，微型打印機(jī)。