日本理學(xué)波長色散X射線熒光光譜儀 ZSX Primus III+ 返回列表頁

ZSX Primus III+
理學(xué)ZSX Primus III+提供主要和次要原子元素的快速定量測定，從氧（O）到鈾（U）的標(biāo)準(zhǔn)的廣泛樣品類型。
高度可靠性的上照射式光學(xué)系統(tǒng)
ZSX Primus III+具有場新的上照射式光學(xué)配置。用戶再也不用擔(dān)心由于維護(hù)樣品室導(dǎo)致的路徑污染或停止時(shí)間。上照射式幾何結(jié)構(gòu)消除了清掃的擔(dān)心并增加了時(shí)間。

高精度樣品定位
高精度樣品定位確保了樣品表面與X設(shè)吸納管之間的距離恒定。這對例如合金分析等需要高精度的應(yīng)用非常重要。ZSX Primus III+使用一個(gè)*的光學(xué)配置執(zhí)行高精度分析，用于減少由于例如電熔銖和壓片等樣品中的非平面表面導(dǎo)致的錯(cuò)誤。

SQX 基本參數(shù)軟件與EZ掃描軟件
用戶使用EZ掃描軟件可以在無需任何事先設(shè)置即可分析位置樣品。這個(gè)節(jié)省時(shí)間的特征僅需點(diǎn)擊鼠標(biāo)和輸入樣品名稱。結(jié)合SQX基本參數(shù)軟件，快速提供最準(zhǔn)確的XRF結(jié)果。SQX能夠自動校正包括線重疊的所有矩陣效果。SQX還可以通過光電子（輕、超輕元素）、變化的環(huán)境、雜質(zhì)和不同的樣品尺寸校正輔助的激發(fā)效應(yīng)。使用匹配庫和的掃描分析程序提高準(zhǔn)確性。

上照射式波長色散X射線熒光光譜儀：
從O到U的元素分析
上照射式光學(xué)最小化污染
小占地面積節(jié)省實(shí)驗(yàn)室空間
高精度樣品定位
特殊光學(xué)減少由于彎曲的樣品表面造成的錯(cuò)誤
統(tǒng)計(jì)過程控制（SPC）的軟件工具
優(yōu)化抽空和真空泄露率改善吞吐量